« Infrastruktur: Geräte
Sie verwenden einen sehr veralteten Browser und können Funktionen dieser Seite nur sehr eingeschränkt nutzen. Bitte aktualisieren Sie Ihren Browser. http://www.browser-update.org/de/update.html
Detailbild zu : Raster-Elektronen-Mikroskopie REM

Raster-Elektronen-Mikroskopie REM

Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg

Fakultät für Naturwissenschaften

Institut für Physik

G16

Universitätsplatz 2

39106 Magdeburg

Tel.:+49 391 6758674

Fax:+49 391 6748108

http://www.ifp.ovgu.de

physik@ovgu.de
Gerätebeschreibung
-HITACHI S-4800 Feldemissions-REM ausgerüstet mit2 SE-Detektoren, YAG-BE-Detektor, TE-Detektor, EDAX-EDX-Detektor
-JEOL JSM 5410 mit thermischen Wolfram-Emitter ausgerüstet mit SE-Detektor, Halbleiter-BE-Detektor, EDAX-EDX-Detektor

Projekte

Weitere Geräte dieser Struktur