« Infrastruktur: Geräte
Sie verwenden einen sehr veralteten Browser und können Funktionen dieser Seite nur sehr eingeschränkt nutzen. Bitte aktualisieren Sie Ihren Browser. http://www.browser-update.org/de/update.html
Detailbild zu :  Elektrische Rastersondenmikroskopie

Elektrische Rastersondenmikroskopie

G16

Universitätsplatz 2

39106 Magdeburg

Tel.+49 391 6758674

Fax:+49 391 6748108

Gerätebeschreibung
Messverfahren:
Scanning Surface Potential Microscopy - SSPM
Electrical Force Microscopy - EFM
Magnetic Force Microscopy - MFM
Scanning Capacitance Microscopy - SCM
bei verschiedenen Temperaturen (300 K - ca. 400 K)
mit optischer Anregung (300 nm - 3000 nm)
Korrelation mit diversen Standardtechniken zur Analyse von Topographie- und Materialkontrast (Contact Mode, Tapping Mode, Lift Mode, Phase Imaging,…)

Forschungsgebiete:
Elektrische Eigenschaften von Strukturdefekten in Wide-Gap-Halbleitermaterialien (Gruppe-III-Nitride, ZnO)
Submikroskopische Charakterisierung von Halbleiterbauelementen (LED's, HEMT's, …)
Weiterentwicklung der SPM-Verfahren zur ortsaufgelösten Defektspektroskopie

Weitere Geräte dieser Struktur