« Infrastruktur: Geräte
Sie verwenden einen sehr veralteten Browser und können Funktionen dieser Seite nur sehr eingeschränkt nutzen. Bitte aktualisieren Sie Ihren Browser. http://www.browser-update.org/de/update.html
Detailbild zu : Elektrische Rastersondenmikroskopie

Elektrische Rastersondenmikroskopie

Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg

Fakultät für Naturwissenschaften

Institut für Physik

G16

Universitätsplatz 2

39106 Magdeburg

Tel.:+49 391 6758674

Fax:+49 391 6748108

http://www.ifp.ovgu.de

physik@ovgu.de
Gerätebeschreibung
Messverfahren:
Scanning Surface Potential Microscopy - SSPM
Electrical Force Microscopy - EFM
Magnetic Force Microscopy - MFM
Scanning Capacitance Microscopy - SCM
bei verschiedenen Temperaturen (300 K - ca. 400 K)
mit optischer Anregung (300 nm - 3000 nm)
Korrelation mit diversen Standardtechniken zur Analyse von Topographie- und Materialkontrast (Contact Mode, Tapping Mode, Lift Mode, Phase Imaging,…)

Forschungsgebiete:
Elektrische Eigenschaften von Strukturdefekten in Wide-Gap-Halbleitermaterialien (Gruppe-III-Nitride, ZnO)
Submikroskopische Charakterisierung von Halbleiterbauelementen (LED's, HEMT's, …)
Weiterentwicklung der SPM-Verfahren zur ortsaufgelösten Defektspektroskopie

Projekte

Weitere Geräte dieser Struktur