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Detailbild zu : Labor für Raster-Tunnel-Mikroskopie STM / Raster-Kraft-Mikroskopie AFM

Labor für Raster-Tunnel-Mikroskopie STM / Raster-Kraft-Mikroskopie AFM

Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg

Fakultät für Naturwissenschaften

Institut für Physik

G16

Universitätsplatz 2

39106 Magdeburg

Tel.:+49 391 6758674

Fax:+49 391 6748108

http://www.ifp.ovgu.de

physik@ovgu.de
Gerätebeschreibung
Das STM-/AFM-Labor ist ausgerüstet mit einem "Rasterscope 4000" der Firma DME- Danish Micro Engineering A/S.

Das Gerät ist als "Sample-Scan"-Gerät aufgebaut, d.h. die im Gerät befestigte Probe wird von einem Piezoscanner bewegt (gescannt); das abtastende Bauteil (Cantilever beim AFM, Tunnelspitze beim STM) ruht im Gerät.

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