« Infrastruktur: Geräte
Sie verwenden einen sehr veralteten Browser und können Funktionen dieser Seite nur sehr eingeschränkt nutzen. Bitte aktualisieren Sie Ihren Browser. http://www.browser-update.org/de/update.html
Detailbild zu : Transmission-Elektronen-Mikroskopie TEM

Transmission-Elektronen-Mikroskopie TEM

Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg

Fakultät für Naturwissenschaften

Institut für Physik

G16

Universitätsplatz 2

39106 Magdeburg

Tel.:+49 391 6758674

Fax:+49 391 6748108

http://www.ifp.ovgu.de

physik@ovgu.de
Gerätebeschreibung
Im Labor für Transmissionselektronenmikroskopie werden submikroskopische Untersuchungen der Halbleiterstrukturen bzw. metallischen Materialien durchgeführt.
Bei entsprechend vorbereiteten Proben kann u.a. die kristalline Struktur sowie die Defektart und Versetzungsmorphologie charakterisiert werden.
Zur lokalen chemischen Analyse steht ein EDX-System zur Verfügung.

Anwendungsbeispiele:
-Abbildende Untersuchungen auf submikroskopischen Niveau
-Charakterisierung von Defektmorphologie und Gitterfehlerart
-Kristallstruktur und Orientierung mittels Elektronenbeugungsanalyse
-Lokale Materialanalyse (Phasenidentifizierung, Konzentrationsprofile)

Projekte

Weitere Geräte dieser Struktur