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Design, Qualifizierung und Selbsttest für Leistungselektronik mit extrem hoher Lebensdauer
Projekthomepage:
Finanzierung:
BMWi/AIF;
Forschergruppen:
Ziel des Vorhabens ist die Entwicklung und Validierung eines Verfahrens zur testba­sierten Qualifizierung leistungselektronischer Baugruppen für extrem hohe Zyklenzahlen. Die hierfür zu lösenden wissenschaftlichen Fragen betreffen:
  • Prüfmethoden zur Beschleunigung von Tests
  • Frühindikatoren für Degradation und Ausfall
  • Konzepte für eingebauten Selbsttest (BIST, built-in Self-test)

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