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JEOL JSM-IT100 „InTouchScope“

Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg

Naturwissenschaftliche Fakultät II

Institut für Physik

Von-Danckelmann-Platz 3

06120 Halle (Saale)

Tel.:+49 345 5525320

Fax:+49 345 5527034

http://www.physik.uni-halle.de/

direktor@physik.uni-halle.de
Gerätebeschreibung
Hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop
Geräteausstattung einschließlich folgender Ausstattungsmerkmale:
• Vergrößerungsbereich: 5 x - 300.000 x
• Beschleunigungsspannung 0.5 - 20 kV (optional bis 30kV)
• Wolframhaarnadel-Kathode (vorjustiert)
• Sekundärelektronen-Detektor
• Konische Objektivlinse
• Garantierte Auflösung im SE-Bild
- 4 nm bei 20 kV (3 nm bei 30 kV)
- 8 nm bei 3 kV
- 15 nm bei 1 kV
• Bildaufnahme bis zu 5.120 x 3.840 Bildpunkte

Projekte

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