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A multiresolution approach to model-based 3-D surface quality inspection
Enzberg, Sebastian ; Hamadi, Ayoub
IEEE transactions on industrial informatics - New York, NY: IEEE, 2005, Bd. 12.2016, 4, S. 1498-1507;
Impact : 4.708
Bibliographie: Begutachteter Zeitschriftenartikel Link 17 Zitationen
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