FTIR-spektroskopische Untersuchung organischer Halbleiter auf Silizium und Graphit
Projektleiter:
Finanzierung:
Haushalt;
Ziel des Projektes ist die Charakterisierung organischer Halbleiter, insbesondere Pentacen, auf Silizium- (bzw. amorphen Siliziumdioxid-) und Graphitoberflächen. Der Magdeburger Beitrag ist dabei die infrarotsprektroskopischer Analyse der ca. 12 nm dicken, auf die genannten Substrate per PVD aufgewachsenen Schichten.
Schlagworte
FT IR, FT IR Spektroskopie, Infrarotspektroskopie, MOCVD, Organische Halbleiter, PVD, Pentacen
Geräte im Projekt
Publikationen
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Kontakt
Prof. Dr. Helmut Weiß
Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg
Fakultät für Verfahrens- und Systemtechnik
Universitätsplatz 2
39106
Magdeburg
Tel.:+49 391 6758416
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