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Strain profiling of AlInN/GaN distributed Bragg reflectors using in situ curvature measurements and ex situ X-ray diffraction
Berger, C. ; Moser, Pascal ; Dadgar, Armin ; Bläsing, Jürgen ; Clos, Rainer ; Krost, Alois
Materials science & engineering . - Amsterdam [u.a.] : Elsevier, Bd. 528.2010, 1, S. 58-64
Impact : 1.901
Bibliographie: Originalartikel in begutachteter internationaler Zeitschrift Link 4 Zitationen
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