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Scratch assay analysis with topology-preserving level sets and texture measures
Glaß, Markus ; Möller, Birgit ; Zirkel, Anne ; Wächter, Kristin ; Hüttelmaier, Stefan ; Posch, Stefan
Pattern recognition and image analysis: 5th Iberian conference, IbPRIA 2011, Las Palmas de Gran Canaria, Spain, June 8-10, 2011 ; proceedings - Heidelberg [u.a.]: Springer, S. 100-108
Bibliographie: Konferenz/Aufsatz
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