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Publikation

Nahfeld-Immunitätsprüfung auf Leiterplatten- und IC-Ebene

Kröning, Oliver ; Leone, Marco
SMT. - Ingelheim : SMT-Verl, Bd. 24.2011, 3, S. 44-47
Bibliographie: Zeitschriftenartikel
Prof. Dr.-Ing. Marco Leone

Universitätsplatz, 2

39106 Magdeburg

Tel.+49 391 6758424

Fax:+49 391 6751236

marco.leone@ovgu.de

Der Lehrstuhl Theoretische Elektrotechnik befasst sich mit der Erzeugung, Ausbreitung und Wirkung elektromagnetischer Felder und die damit zusammenhängenden vielfältigen technischen Fragestellungen. Ein wichtiger Forschungsschwerpunkt ist die Untersuchung elektromagnetischer Störeffekte bei Fragen der Elektromagnetischen Verträglichkeit (EMV). Dazu steht eine moderne Ausstattung für die Computersimulation und für die Messung auf Leiterplatte- und IC-Ebene zur Verfügung. Die wichtigsten Forschungsschwerpunkte liegen auf dem Gebiet der elektromagnetische Modellierung elektronischer Verbindungsstrukturen, der Entwicklung von Rechenmethoden zur EMV-Analyse komplexer Systeme und der Nahfeld Störfestigkeitsanalyse auf Leiterplatten- und IC-Ebene.


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