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Nahfeld-Immunitätsprüfung auf Leiterplatten- und IC-Ebene
Kröning, Oliver ; Leone, Marco
Elektromagnetische Verträglichkeit . - Berlin [u.a.] : VDE Verl., ISBN 978-3-8007-3206-7, S. 145-152, 2010; Kongress: EMV 2010; (Düsseldorf) : 2010.03.09-11
Bibliographie: Originalartikel in begutachteter zeitschriftenartiger Reihe
Prof. Dr.-Ing. Marco Leone

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Der Lehrstuhl Theoretische Elektrotechnik befasst sich mit der Erzeugung, Ausbreitung und Wirkung elektromagnetischer Felder und die damit zusammenhängenden vielfältigen technischen Fragestellungen. Ein wichtiger Forschungsschwerpunkt ist die Untersuchung elektromagnetischer Störeffekte bei Fragen der Elektromagnetischen Verträglichkeit (EMV). Dazu steht eine moderne Ausstattung für die Computersimulation und für die Messung auf Leiterplatte- und IC-Ebene zur Verfügung. Die wichtigsten Forschungsschwerpunkte liegen auf dem Gebiet der elektromagnetische Modellierung elektronischer Verbindungsstrukturen, der Entwicklung von Rechenmethoden zur EMV-Analyse komplexer Systeme und der Nahfeld Störfestigkeitsanalyse auf Leiterplatten- und IC-Ebene.


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