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Publikation

MOVPE growth and characterization of AllnN FET structures on Si(1 1 1)

Hums, Christopher ; Gadanecz, Aniko ; Dadgar, Armin ; Bläsing, Jürgen ; Witte, Hartmut ; Hempel, Thomas ; Dietz, Annette ; Lorenz, Pierre ; Krischok, Stefan ; Schäfer, Jürgen Alois ; Christen, Jürgen ; Krost, Alois
Advances in GaN, GaAs, SiC and related alloys on silicon substrates. - Warrendale, Pa. : MRS, insges. 6 S., 2008 - (Materials Research Society symposium proceedings; 1068); Kongress: MRS Spring Meeting; (San Francisco, Calif.) : 2008.03.24-28
Bibliographie: Originalartikel in begutachteter zeitschriftenartiger Reihe
Prof. Dr. Jürgen Christen

Universitätsplatz 2

39106 Magdeburg

Tel.+49 391 6718669

Fax:+49 391 6711130

juergen.christen@ovgu.de

Forschungsschwerpunkte:
Mikroskopische Charakterisierung innovativer Halbleitersysteme für neuartige Bauelementanwendungen in der Nano- und Optoelektronik. Korrelation der strukturellen, elektronischen und optischen Eigenschaften von:
- Halbleiter-Nanostrukturen: Quantum Wells, Supergitter, Quantenfäden und Quantenpunkten
- Photonische Strukturen (Licht-Materie-Kopplung, Micro Cavities, Photonic Bandgap)
- Neue "wide-gap" Halbleitermaterialien für Optoelektronik im grünen, blauen, violetten und UV
- Ordnungs- und Entmischungsphänomene in ternären und quaternären Halbleitern: GaInP, InGaN, AlGaN, ...
- Halbleiterbauelemente: LEDs, Laser, Detektoren, Sensoren, Ein-Elektronen-Transistoren
- Entwicklung neuartiger hochauflösender bildgebender Lumineszenzmeßmethoden mit submikroskopischer bis atomarer Ortsauflösung
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