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Low-cost high-resolution handheld VNA using RF interferometry
Will, Karl ; Meyer, Tobias ; Omar, Abbas
2008 IEEE MTT-S International Microwave Symposium digest . - Piscataway, NJ : IEEE Service Center, ISBN 978-1-424-41781-0, insges. 4 S.; Kongress: IEEE MTT-S International Microwave Symposium; (Atlanta, Ga.) : 2008.06.15-20
Bibliographie: Originalartikel in begutachteter zeitschriftenartiger Reihe
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