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Identification of defect properties by positron annihilation in Te-doped GaAs after Cu in-diffusion

Elsayed, M. ; Krause-Rehberg, Reinhard ; Anwand, W. ; Butterling, M. ; Korff, B.
Physical review. - College Park, Md : APSPhysical review / B, Bd. 84.2011, 19, insges. 10 S.
Bibliographie: Artikel in Zeitschrift Link 8 Zitationen
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