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Characterization of defects in undoped non c-plane and high resistance GaN layers dominated by stacking faults
Witte, Hartmut ; Günther, K.-M. ; Wieneke, Matthias ; Bläsing, Jürgen ; Dadgar, Armin ; Krost, Alois
Physica . - Amsterdam : North-Holland Physics Publ., Bd. 404.2009, 23/24, S. 4922-4924
Impact : 0.822
Bibliographie: Originalartikel in begutachteter internationaler Zeitschrift Link 4 Zitationen
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