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Characterization of AlGaInN layers using X-ray diffraction and fluorescence

Groh, Lars ; Hums, Christoph ; Bläsing, Jürgen ; Krost, Alois ; Dadgar, Armin
Physica status solidi. - Weinheim : Wiley-VCHPhysica status solidi / B, Bd. 248.2011, 3, S. 622-626
Impact : 1.15
Bibliographie: Originalartikel in begutachteter internationaler Zeitschrift Link 5 Zitationen
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