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Analysis of point defects in AlN epilayers by cathodoluminescence spectroscopy
Bastek, Barbara ; Bertram, Frank ; Christen, Jürgen ; Hempel, Thomas ; Dadgar, Armin ; Krost, Alois
Applied physics letters . - Melville, NY : AIP, Bd. 95.2009, 3, insges. 3 S.
Impact : 3.726
Bibliographie: Originalartikel in begutachteter internationaler Zeitschrift Link 16 Zitationen
Prof. Dr. Jürgen Christen

Universitätsplatz 2

39106 Magdeburg

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juergen.christen@ovgu.de

Forschungsschwerpunkte:
Mikroskopische Charakterisierung innovativer Halbleitersysteme für neuartige Bauelementanwendungen in der Nano- und Optoelektronik. Korrelation der strukturellen, elektronischen und optischen Eigenschaften von:
- Halbleiter-Nanostrukturen: Quantum Wells, Supergitter, Quantenfäden und Quantenpunkten
- Photonische Strukturen (Licht-Materie-Kopplung, Micro Cavities, Photonic Bandgap)
- Neue "wide-gap" Halbleitermaterialien für Optoelektronik im grünen, blauen, violetten und UV
- Ordnungs- und Entmischungsphänomene in ternären und quaternären Halbleitern: GaInP, InGaN, AlGaN, ...
- Halbleiterbauelemente: LEDs, Laser, Detektoren, Sensoren, Ein-Elektronen-Transistoren
- Entwicklung neuartiger hochauflösender bildgebender Lumineszenzmeßmethoden mit submikroskopischer bis atomarer Ortsauflösung
Weitere Publikationen der Autoren