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Zentrum für Innovationskompetenz - SiLi-nano - Strategische Investitionen für die Weiterentwicklung
Finanzierung:
Bund;
Mit der Ausweitung des Materialspektrums, was nun neben Silizium, Chalkogenidgläsern verschiedenen

oxidische Ferroelektrika und Perowskiten auch metall-organische Rahmen-Materialien (MOFs) umfasst, ist
auch ein Anwachsen an verschiedenen Herstellungsmethoden zur Probenfabrikation verbunden. Die
Deposition von empfindlicheren Materialien erfordert zudem eine deutlich strengere Prozesskontrolle. So
ergeben sich z.B. höhere Anforderungen an die Temperaturstabilität während der Abscheidung oder aber
steilere (schnellere) Temperprofile sind nötig, um gewünschte Phasen- und Materialmodifikationen zu
generieren.
Daneben sind für die Kontrolle und strukturelle Charakterisierung der erzeugten Nanostrukturen detailliert
abbildende Verfahren im nm-Bereich notwendig. Dies ist insbesondere bei den untersuchten
Kompositmaterialien und hybriden Materialkombinationen von großer Bedeutung, da hier die dichte Abfolge
von Grenzflächen entscheidenden Einfluss auf die Eigenschaften des gesamten Materialsystems hat. Die
gründliche Untersuchung der nanoskopischen Struktur ist daher eine wichtige Voraussetzung, um
weitergehende Struktur-Eigenschafts-Beziehungen aufklären zu können.
Schließlich sind aufgrund der rasanten Methodenentwicklung im Bereich funktioneller
Charakterisierungstechniken auch die Anforderungen an die damit verbunden experimentellen
Möglichkeiten gestiegen. Eine Erweiterung der experimentellen Ausstattung im Bereich der zeitaufgelösten
optischen Spektroskopie und der magnetoelektrischen Materialcharakterisierung ist daher nötig.

Schlagworte

Struktur-Eigenschafts-Beziehungen
Kontakt
Prof. Dr. Jörg Schilling

Prof. Dr. Jörg Schilling

Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg

Naturwissenschaftliche Fakultät II

Institut für Physik

Von-Danckelmann-Platz 3

06120

Halle (Saale)

Tel.:+49 345 5525320

joerg.schilling(at)physik.uni-halle.de

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